晶体具有规则的几何外形,晶体中最基本的重复单元称之为晶胞。NaCl的晶胞如图所示,随着科学技术的发展,测定阿伏加德罗常数的手段越来越多,测定精确度也越来越高。现有一简单可行的测定方法,具体步骤如下:①将NaCl固体研细、干燥后,准确称取m g NaCl固体并转移到定容仪器A中。②用滴定管向A仪器中加苯,不断振荡,继续加苯到A仪器的刻度线,计算出NaCl固体的体积为V mL。回答下列问题:
(1)步骤①中仪器A最好用________________(填仪器名称)。
(2)你认为步骤②中是用_________(填“酸式”或“碱式”)滴定管,原因是________________。
(3)能否用胶头滴管代替步骤②中的滴定管__________,其原因是________________。
(4)经X-射线衍射测得NaCl晶体中相邻Na+和Cl-的核间距为acm.则利用上述方法测得的阿伏加德罗常数的数学表达式为NA=________________。
短周期主族元素X、Y、Z、W、Q的原子序数依次增大,X原子核外最外层电子数是次外层的2倍,Y的氟化物YF3分子中各原子均达到8电子稳定结构,Z、W是常见金属,Z的氧化物可做耐火材料,W的简单离子是同周期中离子半径最小的,Q的p能级上有一个未成对电子.试回答下列问题:
(1)比较第一电离能:Z_________W(填“>”、“<”或“=”,后同);电负性:X________Y。
(2)写出Q的价电子排布图_____________,YF3的结构式_____________,
(3)向硫酸铜溶液中逐滴滴入Y的氢化物的水溶液至过量,用离子方程式表示该过程出现的现象变化:答:________________________________________。
W、X、Y、Z是四种常见的短周期元素,其原子半径随原子序数变化如下图所示。已知W的一种核素的质量数为18,中子数为10;X和Ne原子的核外电子数相差1;Y的单质是一种常见的半导体材料;Z的电负性在同周期主族元素中最大。
Ⅰ.(1)X位于元素周期表中的位置______________;W的基态原子核外有_________个未成对电子。
(2)X的单质和Y的单质相比,熔点较高的是__________(写化学式);Z的气态氢化物和溴化氢相比,较稳定的是___________(写化学式)。
(3)Y与Z形成的化合物和足量水反应,生成一种弱酸和一种强酸,该反应的化学方程式是 ____________。
Ⅱ.部分化学键的键能见下表:
化学键 | Si-O | Si-Cl | H-H | H-Cl | Si-Si | Si-C |
键能/ kJ•mol-1 | 460 | 360 | 436 | 431 | 176 | 347 |
(1)比较下列两组物质的熔点高低(填“”“”)SiC________Si;SiCl4________SiO2
(2)工业上高纯硅可通过下列反应制取:SiCl4(g)+2H2(g) Si(s)+4HCl(g),
计算该反应的反应热△H=_________kJ·mol-1。
KO2的晶体结构与NaCl相似,KO2可以看着是Na+的位置用K+代替,Cl-的位置用O2-代替,则下列对于KO2晶体结构的描述正确的是
A.与K+距离相等且最近的O2-共有8个
B.与K+距离相等且最近的O2-构成的多面体是正八面体
C.与K+距离相等且最近的K+有8个
D.一个KO2晶胞中的K+和O2-粒子数均为8
金属晶体中金属原子有三种常见的堆积方式,六方堆积(镁型)、面心立方堆积(铜型)和体心立方堆积(钾型),图(a)、(b)、(c)分别表示这三种晶胞的结构,其晶胞内金属原子个数之比为
A.3:2:1 B.11:8:4 C.9:8:4 D.21:14:9
有关晶体的结构如图所示,下列说法中不正确的是
A.在NaCl晶体中,距Na+最近的Cl-形成正八面体
B.在CaF2晶体中,每个晶胞平均占有4个Ca2+
C.在金刚石晶体中,碳原子与碳碳键个数的比为1:2
D.该气态团簇分子的分子式为EF或FE