如图所示，坐标系第一象限和第二象限均存在垂直纸面向里的匀强磁场，
轴为磁场理想边界，两侧磁感应强度大小不同，已知第二象限磁感强度大小为B。坐标原点粒子源以不同的速率沿与轴正方向成30°的方向向第二象限发射比荷相同带负电的粒子。当粒子速率为
时，粒子穿过轴第一次进入第一象限，轨迹与轴交点为
，进入第一象限经过Q点，已知OQ与轴正方向夹角为30°，OQ长为
，不计粒子的重力和粒子间的相互作用力
(1)求第一象限磁感强度大小
；
(2)过
点粒子的速度满足条件。
光滑水平面上有截面为半圆形柱体A，半径为R，在圆柱体截面圆心O正上方
处用轻质细线悬挂小球B。小球B静止在A上时，细线与竖直方向夹角为
，OB与
垂直，A在水平向右推力F作用下处于静止状态，已知A、B质量均为m，B可看成质点，不计一切摩擦。当撤去F，小球推动半圆柱体向左运动，两者分离后，经过t时间小球第一次向左摆到最大高度。（重力加速度大小为g）求：
(1)水平推力F的大小；
(2)自撤掉F后到小球第一次向左摆到最高处的过程中，圆柱体位移大小。
圆柱形陶瓷元器件表面均匀镀有一层导电薄膜，已知导电薄膜电阻率为
，为了测量该薄膜厚度，某同学使用铜丝紧绕在元件表面，铜丝绕制成圆形，圆柱体轴线垂直于铜丝圆面，制成电极A、B，如图甲所示
(1)用螺旋测微器测量元件的直径，测量结果如图乙所示，其读数为_________mm。
(2)为了测量元件电阻，某同学首先使用多用电表对元件粗测，元件电阻约为
，现需准确测量电阻阻值，可供器材如下
A.被测元件
（阻值约）
B.直流电源（电动势约
，内阻约
）
C.电流表
（量程
，内阻约
）
D.电压表
（量程
，内阻
）
E.电压表
（量程
，内阻约
）
F.定值电阻
（
）
G.滑动变阻器
（
）
H.滑动变阻器
（
）
I.电键、导线等
①在可供选择的器材中，已经选择A、B、C、I除此之外，应该选用________（填写序号）
②根据所选器材，在图丙方框中画出实验电路图_______
③需要测量的物理量________，请用上述物理量表示被测电阻
______。
(3)为了测量薄膜厚度还需要测量的物理量为__________。
(4)若被测元件电阻为
，元件直径为
，电阻率为，请结合使用(3)物理量表示薄膜厚度
____。
某同学用图甲所示的实验装置验证机械能守恒定律，A、B为固定在铁架台上的光电门，计时电脑记录小球通过光电门的时间，使用该装置研究小球下落运动过程中的机械能情况。计时电脑记录小球通过A、B两光电门的遮光时间分布是
和
，当地的重力加速度为g。
(1)用20分度游标卡尺测量小球直径
，刻度线如图乙所示，则
______cm；
(2)为了验证小球自A到B过程中机械能是否守恒，还需要进行哪些实验测量____
A.用天平测出小球的质量
B.测出小球到光电门A的竖直高度
C. A、B光电门中点间的竖直高度
(3)根据实验测得的物理量，如果满足________关系，即能证明小球在自A到B过程中机械能守恒；
(4)若计时电脑还记录了小球自A到B的时间
，本实验还可以测量当地的重力加速度，则重力加速度
________。（使用、、和表示）
如图所示，比荷为
的粒子从静止开始，经加速电场U加速后进入辐向的电场E进行第一次筛选，在辐向电场中粒子做半径为R的匀速圆周运动，经过无场区从小孔
处垂直边界进入垂直纸面向外的匀强磁场B中进行第二次筛选，在与
距离为
小孔
垂直边界射出并被收集。已知静电分析器和磁分析器界面均为四分之一圆弧，以下叙述正确的是（ ）
A.静电分析器中
的电势高于
的电势
B.被收集的带电粒子一定带正电
C.电场强度E与磁感应强度B的比值关系为
D.若增大U，为保证B不变，则被收集粒子的比原来大
如图所示为平行于
轴的静电场电势
随变化的图象。电子只受电场力，自
位置静止释放，到达O点时的动能为
，已知电子电量为e，质量为m，
，则下列分析正确的是（ ）
A.电子在
处速度为
B.电子在处加速度为
C.电子将沿轴做往复运动，周期
D.电子在处动能与电势能之和为
